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半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現(xiàn)從-30~150℃（選型）的控溫。可以實現(xiàn)變溫光學測試，或者選配探針實現(xiàn)變溫電學測試。
一、儀器介紹：
半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現(xiàn)從-30~150℃（選型）的控溫。可以實現(xiàn)變溫光學測試，或者選配探針實現(xiàn)變溫電學測試。
二、儀器主要技術參數(shù)：
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型號 |
CKL120-30 |
CKL150-30 |
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制冷方式 |
半導體 |
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溫控范圍 |
-30~120℃ |
-30~150℃ |
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溫度精度 |
±0.1 |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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最大加熱速率 |
50℃/min |
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最大冷卻速率 |
-40℃/min |
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樣品臺材質(zhì) |
鋁合金 |
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樣品臺大小 |
Φ16mm |
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最大振幅 |
≤2μm |
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通光孔直徑 |
Φ2mm |
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正面觀察窗大小 |
Φ18mm |
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最小物鏡工作距離 |
3.5mm |
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X、Y軸移動距離 |
±6mm |
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位移分辨率 |
0.01mm |
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外觀尺寸 |
140×95×20mm* |
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腔體凈重 |
1kg |
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